Воздействие мощного ионного пучка наносекундной длительности на промышленную керамику AlN
- Авторы: Ковивчак В.С.1
-
Учреждения:
- Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук, Институт радиофизики и физической электроники
- Выпуск: № 3 (2025)
- Страницы: 57-61
- Раздел: Статьи
- URL: https://rjsocmed.com/1028-0960/article/view/687677
- DOI: https://doi.org/10.31857/S1028096025030095
- EDN: https://elibrary.ru/ELVBGW
- ID: 687677
Цитировать
Аннотация
Исследовано разрушение и изменение элементного состава поверхностных слоев алюмонитридной керамики при воздействии мощного ионного пучка наносекундной длительности. Определены пространственные характеристики поверхностного разрушения керамики. Разрушение происходит преимущественно по границам частиц (кристаллитов), из которых спекается керамика. Наблюдается полное удаление части таких частиц из поверхностного слоя как при однократном, так и при многократном облучении с плотностью тока 150 А/см2. Обнаружено образование капель полусферической формы различных размеров как на облученной поверхности керамики, так и на поверхности после удаления фрагмента разрушения (при многократном облучении). Установлено обеднение поверхностного слоя керамики азотом. Обсуждены возможные механизмы наблюдаемых изменений в поверхностном слое керамики.
Ключевые слова
Полный текст

Об авторах
В. С. Ковивчак
Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук, Институт радиофизики и физической электроники
Автор, ответственный за переписку.
Email: kvs_docent@mail.ru
Россия, Омск
Список литературы
- Anandkumar M., Trofimov E. // J. Alloys Compd. 2023. V. 960. P. 170690. http://doi/org/10.1016/j.jallcom.2023.170690
- Vaiani L., Boccaccio A., Uva A.E., Palumbo G., Piccininni A., Guglielmi P., Cantore S., Santacroce L., Charitos I.A., Ballini A. // J. Funct. Biomater. 2023. V. 14. P. 146. http://doi/org/10.3390/jfb14030146
- Nisar A., Hassan R., Agarwal A., Balani K. // Ceram. Int. 2022. V. 48. P. 8852. http://doi/org/10.1016/j.ceramint.2021.12.199
- Sokovkin S.Yu., Balezin M.E. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2020. V. 978. P. 164466. http://doi/org/10.1016/j.nima.2020.164466
- Ebert J.N., Rheinheimer W. // Open Ceram. 2022. V. 11. P. 100280. http://doi/org/10.1016/j.oceram.2022.100280
- Lizcano M., Williams T.S., Shin E.-S.E., Santiago, D., Nguyen B. // Materials. 2022. V. 15. P. 8121. http://doi/org/10.3390/ma15228121
- Remnev G.E., Isakov I.F., Opekounov M.S. et al. // Surf. Coat. Technol. 1999. V. 114. P. 206. http://doi/org/10.1016/S0257-8972(99)00058-4
- Remnev G.E., Tarbokov V.A., Pavlov S.K. // Inorg. Mater. Appl. Res. 2022. V. 13. P. 62. http://doi/org/10.1134/S2075113322030327
- Uglov V.V., Remnev G.E., Kuleshov A.K., Astashinski V.M., Saltymakov M.S. // Surf. Coat. Technol. 2010. V. 204. P. 1952. http://doi/org/10.1016/j.surfcoat.2009.09.039
- Kovivchak V.S., Panova T.V., Burlakov R.B. // J. Surf. Invest. X-Ray, Synchrotron, Neutron Tech. 2008. V. 2. P. 200. http://doi/org/ 10.1134/S1027451008020079
- Kovivchak V.S., Panova T.V., Krivozubov O.V., Davletkil’deev N.A., Knyazev E.V. // J. Surf. Invest. X-Ray, Synchrotron, Neutron Tech. 2012. V. 6. P. 244. http://doi/org/10.1134/S1027451012030123
- Kovivchak V.S., Panova T.V. // J. Surf. Invest. X-Ray, Synchrotron, Neutron Tech. 2019. V. 13. P. 1252. http://doi/org/10.1134/S1027451019060363
- Liang G., Shen J., Zhang J. et al. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2017. V. 409. P. 277. http://doi/org/10.1016/j.nimb.2017.04.048
- Shen J., Shahid I., Yu X. et al. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2017. V. 413. P. 6. http://doi/org/10.1016/j.nimb.2017.09.031
- Romanov I.G., Tsareva I.N. // Tech. Phys. Lett. 2001. V. 27. P. 695. http://doi/org/10.1134/1.1398972
- Nakano H., Watari K., Hayashi H., Urabe K. // J. Am. Ceram. Soc. 2004. V. 85. P. 3093. http://doi/org/10.1111/j.1151-2916.2002.tb00587.x
- De Faoite D., Browne D.J., Chang-Díaz F.R. et al. // J. Mater. Sci. 2012. V. 47. P. 4211. http://doi/org/10.1007/s10853-011-6140-1
- Goldstein J.I., Newbury D.E., Echlin P. et al. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. New York: Kluwer acad. /Plenum publ., 2003. 689 p.
- Ghyngazov S., Pavlov S., Kostenko V., Surzhikov A. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2018. V. 434. P. 120. http://doi/org/10.1016/j.nimb.2018.08.037
- Kostenko V., Pavlov S., Nikolaeva S. // IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. 2018. V. 289. P. 012019. http://doi/org/10.1088/1757-899X/289/1/012019
- Ghyngazov S.А., Boltueva V.А. // Ceram. Int. 2023. V. 49. P. 37061. http://doi/org/10.1016/j.ceramint.2023.09.099
- Ghyngazov S., Kostenko V., Shevelev S., Lysenko E., Surzhikov A. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2020. V. 464. P. 89. http://doi/org/10.1016/j.nimb.2019.12.013
- Zhang S., Yu X., Zhang J. et al. // Vacuum. 2021. V. 187. P. 110154. http://doi/org/10.1016/j.vacuum.2021.110154
Дополнительные файлы
